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元器件高低温测试装置在用于恶劣环境的半导体电子元件的制造中，IC封装组装和工程和生产的测试阶段包括在温度（-85℃至+ 250℃）下的电子冷热测试和其他环境测试模拟。半导体水冷机chiller unit产物说明

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无锡冠亚射流式高低温冲击测试机给芯片、模块、集成电路板、电子元器件等提供快速的环境温度。是对产物电性能测试、失效分析、可靠性评估*的仪器设备。广泛应用于半导体公司、航空航天、光通讯、高校、研究所等领域。快速温度循环试验箱的使用安全须知

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